我們為半導體封裝完整性提供密封性檢測解決方案
采用真空/壓力衰減測試、氦檢測試為半導體封裝進行密封性檢測
采用真空衰減法或壓氦法對半導體封裝進行密封完整性檢測
采用壓力衰減與激光干涉法對半導體封裝進行進行密封完整性檢測
各類封裝的半導體
地址:上海市寶山區呼蘭路799號智匯園4號樓(一樓)413單元
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